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  • ZML310顯微鏡法粒度粒形儀

    ZML310顯微鏡法粒度粒形儀是采用顯微鏡圖像法測(cè)量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統(tǒng),具有直觀、可視、準(zhǔn)確、測(cè)試范圍寬、操作簡(jiǎn)單、測(cè)量參數(shù)全面等特點(diǎn)。能夠同時(shí)測(cè)量顆粒粒度、形狀及表面顏色的顯微粒度分析儀器。

    更新時(shí)間

    2025-04-15

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

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